ic封装测试常见缺陷类型 - 武汉市智能装备有限公司

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IC封装测试常见缺陷类型解析
在IC封装测试过程中，常见的缺陷类型主要包括封装缺陷、焊接缺陷、电气缺陷和机械缺陷。这些缺陷不仅影响产品的性能和可靠性，还可能对后续的组装和使用造成严重影响。

2026-06-18